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内存条颗粒DDR2memorySDRAM测试架治具的详细描述：
产品特点及性能参数：
◆产品通用程度高，只要换IC限位框，即可测试所有内存IC（宽度≤12MM）；
◆有球无球均可测试（只需更换上盖的IC压板）；
◆采用手动翻盖式结构，操作方便；
◆上盖的IC压板采用摆动式结构，下压平稳，IC的压力均匀，不移位；
◆探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触，而不会损坏锡球；
◆高精度的定位槽，IC定位，测试效率高；
◆测试准确性高，大大减少误判率；
◆采用双头针，探针可更换，维修方便，成本低；
◆绝缘材料：Torlon、PEI、PEEK，限位框铝合金材料制作；
◆测试频率可达1066M Hz；
◆测试寿命长，有效测试10万次以上；
◆内存条测试治具测试规格：DDR2X8 一次性可测试8颗内存颗粒；
◆可以定制单颗内存IC与服务器主控IC的测试治具
◆可以免费提供相关
